反射率测量仪——广州景颐光电科技有限公司是专门做反射率检测仪的公司
硅片反射率检测仪
21世纪的人类搭上了科技飞速进步的快车，生活中许多微量元素都经过加工制作成半导体等电子元件。
其中硅片的用途在工业生产中占着不可或缺的地位，通常被应用于如计算机、电信和电视，还有的应用于先进的微波传送、激光转换系统、诊断和设备、防御系统和NASA航天飞机等领域。
景颐光电反射率检测仪是一套全波长380nm-1000nm的光谱分析仪，能快速准确地测量硅片的反射率。
适用于评估硅片的遮盖力，或金属化薄膜，阳极氧化铝或陶瓷的简单遮光分选任务。
欢迎咨询景颐光电了解更多反射率测量仪
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硅片反射率检测仪
硅片又称晶圆片，是由硅锭加工而成的，通过专门的工艺可以在硅片上刻蚀出数以百万计的晶体管，被广泛应用于集成电路的制造。
景颐光电反射率检测仪是一套全波长380nm-1000nm的光谱分析仪，能快速准确地测量硅片的反射率。
景颐光电反射率检测系统采用积分球8°角测试方法，测定时间短，单次测试时间1秒内。可以用于测量物体的反射率、反射率颜色和化学样品中的成分信息，是为涂料、颜料、油墨、平面样品、硅片、镀膜表面、镜面铝镜、油漆、塑料、布料等化工行业贯彻执行标准，该仪器完全符合各项标准。
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反射率测试仪，采用集成式的微型光谱仪，并集成积分球光源，可对平面样品（如硅晶片，镀膜表面，油漆，纸张，布料等）进行反射率测试。
反射率测试仪内部采用了集成式的微型光谱仪，没有固定式光学元件，稳固可靠，光学精度不受移动影响，体积小巧，可以在各种环境中使用。
测试仪采用了高稳定性的卤钨灯光源，稳定的电源输出保证了光谱的稳定性，有效地提高了测试精度。使用积分球测量方式，提供均匀的照射光斑，进一步提高了测试的性，可以适用于多种类型的样品。反射率测试仪整体采用8度角的设计，符合CIE的测试标准。
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